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Diffraction X, inauguration le 15 octobre

05/10/2010

Le parc de diffraction des rayons X de la fédération Chevreul vient de s’enrichir de trois diffractomètres, d’une part, et d’une micro-source pour les études de diffusion aux petits angles (SAXS), d’autre part. Ces trois diffractomètres permettent la caractérisation structurale par diffraction des rayons X de composés cristallisés.

 

Inauguration du plateau technique rayons X de la fédération Chevreul

Vendredi 15 octobre 2010 à 11h15

à l’Ecole Nationale Supérieure de Chimie de Lille

Amphithéâtre Loison

 
Contact :
Pascal Roussel , Chargé de recherche CNRS, Unite de Catalyse et de Chimie du Solide

Développement du parc de diffraction X

Avec le soutien de l’Etat, de la Région Nord-Pas de Calais, du FEDER et du CNRS, dans le cadre du projet phare du CPER "Chimie et Matériaux pour le développement durable", le parc de diffraction des rayons X de la fédération Chevreul vient de s’enrichir de trois diffractomètres, d’une part, et d’une micro-source pour les études de diffusion aux petits angles (SAXS), d’autre part. Ces trois diffractomètres permettent la caractérisation structurale par diffraction des rayons X de composés cristallisés qu’ils se présentent sous forme de poudres, d’échantillons massifs, de monocristaux ou encore de films minces déposés sur un substrat.
Le premier d’entre eux, dédié aux échantillons polycristallins, apporte au plateau technique la rapidité de mesure grâce à son robot passeur à 45 échantillons et son détecteur ultra-rapide, améliorant ainsi notre réactivité vis-à-vis des demandes des différents utilisateurs.

Le deuxième diffractomètre, réservé aux composés monocristallins, est équipé de deux sources de rayonnement (micro-sources) beaucoup plus puissantes que les sources dites « classiques » : elles permettent ainsi l’accès à la structure cristalline d’échantillons autrefois trop petits qu’ils soient organiques ou inorganiques.

Enfin, le troisième diffractomètre est doté d’une anode tournante 9kW : il autorise à la fois la caractérisation structurale haute résolution de poudres et d’échantillons massifs mais aussi celle de films minces que ce soit à température ambiante ou jusqu’à 1100°C. Cet appareil, ainsi équipé, est unique en Europe.

Le plateau technique constitué des diffractomètres déjà existants et de ces nouvelles acquisitions offre un éventail d’analyses qui couvre un large domaine d’applications, accessible à la communauté scientifique et aux partenaires industriels.

La diffraction des rayons X reste l’une des techniques incontournables de caractérisation structurale des matériaux.

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